ISO/TC 201/SC 10
X-ray Reflectometry (XRR) and X-ray Fluorescence (XRF) Analysis
Analyse par réflectométrie de rayons X et par fluorescence de rayons X
Standardization of methods for instrument specification, instrument calibration, instrument operation, data acquisition, data processing, and data analysis in the use of X-ray Reflectometry (XRR) and X-ray Fluorescence (XRF) Analysis for surface chemical and structural analysis.
Normalisation des méthodes pour la spécification des instruments, de leur étalonnage et de leur fonctionnement, pour l'acquisition, le traitement et l'analyse des données pour l'utilisation de la réflectométrie de rayons X (XRR) et la fluorescence de rayons X (XRF) en analyse de la composition chimique et structurelle des surfaces.
ISO/TC 147
ISO/TC 202
ISO/TC 229