reference: ISO/TC 201/SC 10
title: X-ray Reflectometry (XRR) and X-ray Fluorescence (XRF) Analysis
title: Analyse par réflectométrie de rayons X et par fluorescence de rayons X
scope: Standardization of methods for instrument specification, instrument calibration, instrument operation, data acquisition, data processing, and data analysis in the use of X-ray Reflectometry (XRR) and X-ray Fluorescence (XRF) Analysis for surface chemical and structural analysis.
scope: Normalisation des méthodes pour la spécification des instruments, de leur étalonnage et de leur fonctionnement, pour l'acquisition, le traitement et l'analyse des données pour l'utilisation de la réflectométrie de rayons X (XRR) et la fluorescence de rayons X (XRF) en analyse de la composition chimique et structurelle des surfaces.
committeeLiaisons: ISO/TC 147
committeeLiaisons: ISO/TC 202
committeeLiaisons: ISO/TC 229